Frontiers of electron microscopy in materials science - proceedings of the fourth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials science, Oakland, CA, USA, 21-24 April 1992

Författare
Wayne E. King Steven A. Bradley Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science 1992) Oakland :
(Guest editors: Steven A. Bradley and Wayne E. King.)
Genre
Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
1993 Nederländerna xi, 353 sidor. ill.